Внутренние напряжения и деформационный фазовый переход в наноразмерных пленках титаната бария-стронция. Мухортов, В. М., Головко, Ю. И., Юзюк, Ю. И., Латуш, Л. Т., Жигалина, О. М., & Кускова, А. Н. Кристаллография, 53(3):536–542, 2008.
Внутренние напряжения и деформационный фазовый переход в наноразмерных пленках титаната бария-стронция [link]Paper  abstract   bibtex   
Установлено, что при изменении толщины гетероэпитаксиальных пленок Ba0.8Sr0.2TiO3, выращенных по слоевому механизму роста на подложках (100) MgO, существует критическая толщина пленок ( 50 нм), характерная тем, что внутренние деформационные поля в пленках толщиной ниже критической существенно меньше, чем в пленках толщиной выше критической. При толщине ниже критической имеют место напряжения растяжения, а при больших толщинах – напряжения сжатия. Существование критической толщины подтверждено рентгеноструктурными данными и рамановской спектроскопией.
@article{__2008-6,
	title = {Внутренние напряжения и деформационный фазовый переход в наноразмерных пленках титаната бария-стронция},
	volume = {53},
	issn = {0023-4761},
	url = {https://www.elibrary.ru/item.asp?id=9955581},
	abstract = {Установлено, что при изменении толщины гетероэпитаксиальных пленок Ba0.8Sr0.2TiO3, выращенных по слоевому механизму роста на подложках (100) MgO, существует критическая толщина пленок ( 50 нм), характерная тем, что внутренние деформационные поля в пленках толщиной ниже критической существенно меньше, чем в пленках толщиной выше критической. При толщине ниже критической имеют место напряжения растяжения, а при больших толщинах – напряжения сжатия. Существование критической толщины подтверждено рентгеноструктурными данными и рамановской спектроскопией.},
	language = {ru},
	number = {3},
	urldate = {2023-11-11},
	journal = {Кристаллография},
	author = {Мухортов, В. М. and Головко, Ю. И. and Юзюк, Ю. И. and Латуш, Л. Т. and Жигалина, О. М. and Кускова, А. Н.},
	year = {2008},
	keywords = {⛔ No DOI found},
	pages = {536--542},
}

Downloads: 0