Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{\textrm{0.8}}$Sr$_{\textrm{0.2}}$TiO$_{\textrm{3}}$. Широков, В. Б., Головко, Ю. И., & Мухортов, В. М. Журнал технической физики, 82(7):79–84, June, 2012. ![Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{\textrm{0.8}}$Sr$_{\textrm{0.2}}$TiO$_{\textrm{3}}$ [link]](https://bibbase.org/img/filetypes/link.svg "link")
Paper abstract bibtex Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba0.8,Sr0.2)TiO3 на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190-1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.
@article{__2012,
title = {Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок {Ba}$_{\textrm{0.8}}${Sr}$_{\textrm{0.2}}${TiO}$_{\textrm{3}}$},
volume = {82},
url = {http://journals.ioffe.ru/articles/10654},
abstract = {Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba0.8,Sr0.2)TiO3 на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190-1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.},
language = {ru},
number = {7},
urldate = {2023-11-11},
journal = {Журнал технической физики},
author = {Широков, В. Б. and Головко, Ю. И. and Мухортов, В. М.},
month = jun,
year = {2012},
pages = {79--84},
}
Downloads: 0
{"_id":"SjstLPXdK3NC8DcFG","bibbaseid":"---batextrm08srtextrm02tiotextrm3-2012","author_short":["Широков, В. Б.","Головко, Ю. И.","Мухортов, В. М."],"bibdata":{"bibtype":"article","type":"article","title":"Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{\\textrm{0.8}}$Sr$_{\\textrm{0.2}}$TiO$_{\\textrm{3}}$","volume":"82","url":"http://journals.ioffe.ru/articles/10654","abstract":"Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba0.8,Sr0.2)TiO3 на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190-1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.","language":"ru","number":"7","urldate":"2023-11-11","journal":"Журнал технической физики","author":[{"propositions":[],"lastnames":["Широков"],"firstnames":["В.","Б."],"suffixes":[]},{"propositions":[],"lastnames":["Головко"],"firstnames":["Ю.","И."],"suffixes":[]},{"propositions":[],"lastnames":["Мухортов"],"firstnames":["В.","М."],"suffixes":[]}],"month":"June","year":"2012","pages":"79–84","bibtex":"@article{__2012,\n\ttitle = {Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок {Ba}$_{\\textrm{0.8}}${Sr}$_{\\textrm{0.2}}${TiO}$_{\\textrm{3}}$},\n\tvolume = {82},\n\turl = {http://journals.ioffe.ru/articles/10654},\n\tabstract = {Исследованы свойства наноразмерных пленок (Ba0.8,Sr0.2)TiO3 на монокристаллических подложках окиси магния. Пленки изготовлены по методу высокочастотного распыления при осаждении по слоевому механизму роста. Измерения параметров решетки выполнены с помощью методов рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 190-1100 nm. При анализе экспериментальных оптических характеристик для определения коэффициента преломления и поглощения в дисперсионной формуле использованы дополнительные, релаксационные слагаемые, отражающие конечное время жизни осциллятора, что позволило более точно провести аппроксимацию экспериментальных данных.},\n\tlanguage = {ru},\n\tnumber = {7},\n\turldate = {2023-11-11},\n\tjournal = {Журнал технической физики},\n\tauthor = {Широков, В. Б. and Головко, Ю. И. and Мухортов, В. М.},\n\tmonth = jun,\n\tyear = {2012},\n\tpages = {79--84},\n}\n\n\n\n","author_short":["Широков, В. Б.","Головко, Ю. И.","Мухортов, В. М."],"key":"__2012-1-1-1-1-1-1-1-1-1-1","id":"__2012-1-1-1-1-1-1-1-1-1-1","bibbaseid":"---batextrm08srtextrm02tiotextrm3-2012","role":"author","urls":{"Paper":"http://journals.ioffe.ru/articles/10654"},"metadata":{"authorlinks":{}}},"bibtype":"article","biburl":"https://bibbase.org/zotero-group/Mihey87/5287638","dataSources":["3bDLdJJSLMCzwHmsG","5aHFuyNRro5Y6Gatd"],"keywords":[],"search_terms":["textrm","textrm","tio","textrm","широков","головко","мухортов"],"title":"Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок Ba$_{\\textrm{0.8}}$Sr$_{\\textrm{0.2}}$TiO$_{\\textrm{3}}$","year":2012}