Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien für den aufwandsoptimierten Integrationstest. Reis, S., Metzger, A., & Pohl, K. In Hochberger, C. & Liskowsky, R., editors, Proceedings der 36. Jahrestagung der Gesellschaft für Informatik (Informatik 2006), of GI-Edition, Lecture Notes in Informatics, pages 264–265, Bonn, 2006. Köllen.
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@inproceedings{Reis.2006,
 author = {Reis, Sacha and Metzger, Andreas and Pohl, Klaus},
 title = {Modellbasierte Generierung von Testfallszenarien f{\"u}r den aufwandsoptimierten Integrationstest},
 keywords = {sse},
 pages = {264--265},
 publisher = {K{\"o}llen},
 series = {GI-Edition, Lecture Notes in Informatics},
 editor = {Hochberger, Christian and Liskowsky, R{\"u}diger},
 booktitle = {Proceedings der 36. Jahrestagung der Gesellschaft f{\"u}r Informatik (Informatik 2006)},
 year = {2006},
 address = {Bonn}
}

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